ICP-OES MICS系列全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜分析儀器,利用性能可靠的集成固態射頻電源、穩固的恒溫二維分光系統、科研級制冷防溢出CCD檢測系統，結合國內領先的光譜校正技術，將ICP OES MICS的操作性、靈活性和可靠性發揮的超乎想象，日常操作和維護非常簡單，更適合國內一線分析實驗的操作要求，實現小型化、便捷化、智能化的光譜儀。
產品型號：ICPOES MICS 訪問次數：272 更新時間：2025-06-16
一、產品介紹
ICP-OES MICS系列全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜分析儀器利用性能可靠的集成固態射頻電源、穩固的恒溫二維分光系統、科研級制冷防溢出CCD檢測系統，結合的光譜校正技術，將ICPOES IICS的操作性、靈活性和可靠性發揮的超乎想象，日常操作和維護非常簡單，更適合分析實驗的操作要求，實現小型化(miniatorization)、便捷化(Intelligentize)、智能化(Convenience)的光譜儀( Spec仕ometer )。ICP-OES MIC系列全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜分析儀器，可廣泛應用于環境保護、食品安全、地質礦產、冶金、高色金屬、稀土、化工、||伍床醫藥、石油制昂、半導體、農業研究等各個領域。用于測定不同物質中的常里微里、瘦里元素含里，可用于樣目中元素的定性、半定里及精確定里分析，檢出限可達十億分之一級。
二、性能指標
檢測器:
高效半導體制冷的CCD固體檢測器，在光譜儀波長范圍內具有連續像素，能任意選擇波長，且具有天然的防溢出功能設計。檢測單元:大于3,000，000個檢測單元，讀取速度2Mz°
像素分辨率:<0.003rm。
檢測器制冷系統:為獲得的檢測器暗電流，采用高效三級半導體制冷。
工作溫度:<-45℃，到達工作溫度的時間:く3 分鐘。
光學系統:恒溫驅氣型中階梯分光系統。
單色器:中階梯光棚和棱鏡二維色散系統，高能里，為保證儀器測試的穩定性，光柵和棱道等內光路部件位置固定不動，在光譜儀全波長范圍內一次曝光同時測定所有元素。
光室:帶精密光室恒溫38℃±0.1℃，可使用氙氣或氮氣進行光室吹掃，測定<200nm譜線時驅氣里<3L/min。
波長范圍:167-1000r，全波長覆蓋。
光學分辨率(FHW):As189.042rm半峰寬<0.007nm，Ca393.366mmn半峰寬<0.017nm，Ba614.172半峰寬<0.024rm，K766.490mm半峰寬<0.035rm為保證光學系統的穩定性和優良的光通里，焦距為280mm。
等離子體:
等離子體觀察方式:炬管垂直放置
RF發生器:固態發生器，等離子體線圈具有聚四氟乙烯保護層設計，防腐蝕，免維護。
頻率:27.12MHZ。
RF功率多1300W。
氣路控制:配置3路高精度質里流里控制器，由ICP-0ES軟件直接控制，包括冷卻氣、輔助氣、霧化氣。精度0.01 L/min。
蠕動泵:5通道16滾輪蠕動泵。
分析性能:
分析速度:>每分鐘50個元素或譜線，而且每條測里譜線的積分時間>10秒;樣品消耗量:<2ml，測定大于70個元素;
譜線靈活性:可對分析元素的任何一條譜線進行定性、半定量和定里分析，便于分析研究。
測定譜線的線性動態范圍:>106(以mn257.6nm 來測定，相關系數>0.9996)，提供證明材料。
內標校正:同時的內標校正，即內標元毒和測量元毒必須同時曝光。
精密度:測定1ppm或10ppm多元素混合標準溶液，重復測定十次的RSD0.5%。
穩定性:測定1ppm或10ppm多元素混合標準溶液，不使用內標校正，連續測定4小時的長時間穩定性RSD<1.0%。
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